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儿童和青年中的ICD导线故障
[2014/2/27 16:54:17]
 全文(共1页)

  本研究探讨在儿童和青年中,导线直径和设计对埋藏式心脏转复除颤器(ICD)导线寿命的影响。纳入连续的经静脉右心室ICD导线植入且年龄≤30岁受试者,评价导线性能。在101例患者(中位年龄15.5±4.9岁)中植入120根ICD导线,其中,47根为小直径(≤8 F)导线, 73根为标准直径(>8F)导线。在中位随访28.7个月期间,发生25例导线故障(患病率21%),每年发生率为5.6%。与标准直径导线相比,Sprint Fidelis(SF)导线寿命达到3年(69% vs. 92%)和5年(44% vs. 86%)的可能性较低。多变量分析显示,SF设计使其导线故障的风险比(HR)最大(HR:4.42)。在这项评估导线直径、导线设计和患者因素的单中心儿科研究中,SF设计使导线故障风险最高,提示设计而不是直径是ICD导线性能的关键。

  J Am Coll Cardiol. 2014;63(2):133-140.





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