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导管消融可抑制药物耐受性ICD放电相关死亡率升高
[2013/12/26 15:16:56]
 全文(共1页)

  一项回顾性研究显示,植入ICD并发生适当放电的患者应优先选择接受射频消融治疗室性心律失常,而非抗心律失常药。

  对超过3000例接受抗心律失常药物治疗后仍发生适当放电的ICD患者分析显示,对室性心动过速/心室颤动进行消融能将其死亡和心力衰竭(心衰)住院风险降至从未发生适当放电的ICD患者水平,且独立于射血分数或缺血性/非缺血性心脏病。和发生适当放电但继续抗心律失常药物治疗的患者相比,其可降低随后发生适当放电的风险。

  第一作者T Jared Bunch博士(Intermountain医学中心)表示,“我们早已知道室性心律失常和ICD放电是死亡率增高的预测因素,因此对这部分患者进行消融非常重要。”他同时承认本研究为回顾性研究,存在局限性。研究12月12日发表于Heart Rhythm

  Bunch等对3家医院的3007例植入ICD后随访至少3年(中位1243天)的患者进行回顾分析。总死亡率为28.8%;22.7%的患者发生心衰住院,23.5%的患者新发心房颤动。调整包括人口统计学、高血压、糖尿病、NYHA心功能分级和CHADS2评分在内的混杂因素后,和未发生放电者相比,发生适当放电并接受药物治疗的患者死亡和心衰住院风险显著上升,而放电后进行消融的患者风险降低。研究还发现接受消融的患者新发心房颤动比例(43.1%)比发生放电未行消融(29.1%)或未发生放电者(20.3%;P均<0.0001)更高,但调整基线因素后该差异不再具有统计学意义。

  Heart Rhythm 2013





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